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余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180o立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。 CC-UV/VIS余弦校正器的有效面积为3.9mm,采用特氟龙(聚四氟乙烯)漫射材料,对200-800nm谱段优化。对于紫外/可见/近红外光谱范围(200-2500nm),推荐使用采用Radin材料的CC-VIS/NIR。两款余弦校正器都可以和任何SMA接头的光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,这些余弦校正器可以用来测量UV-A和UV-B太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。 此外还有特殊的余弦校正器,如8mm有效面积的CC-UV/VIS/NIR-8MM和可用于太阳测量的5°视场角的CC-UV/VIS/NIR-5.0.
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技术数据
余弦校正器型号 |
CC-UV/VIS |
CC-VIS/NIR |
CC-UV/VIS/NIR-8MM |
CC-UV/VIS/NIR-5.0 |
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有效面积 |
3.9 mm |
3.9 mm |
8.0 mm |
20.0 mm |
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漫射材料 |
Teflon (200- |
Radin石英(200-2500 nm), 约1.5mm厚 |
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尺寸 |
6.5mm直径, 18mm长 |
12 mm 直径, 29mm长 |
38mm直径,, 317mm长 |
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采样几何结构 |
接收180°视场角的光 |
接收5°视场角的光 |
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光纤接头 |
SMA 905 |
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使用环境温度 |
-30 °C 到+100 °C |
订购信息
CC-UV/VIS |
用于UV/VIS谱段的余弦校正器, 包括 SMA 接头 |
CC-VIS/NIR |
用于UV/VIS/NIR谱段的余弦校正器, 包括 SMA 接头 |
CC-UV/VIS/NIR-8MM |
用于UV/VIS/NIR谱段的余弦校正器, 8mm有效面积,包括 SMA 接头 |
CC-UV/VIS/NIR-5.0 |
用于UV/VIS/NIR谱段的余弦校正器, 5°视场角,包括 SMA 接头 |